Новости
Программы
О школе
Главная
Мнения
© 2022 АНО «Моспром» – Все права защищены
Технологии связи
Аддитивные технологии
Искусственный интеллект
Микроэлектроника и фотоника
Пром. дизайн

Базовый курс по аддитивным технологиям (HARZ Labs)

Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов

Микроэлектроника и фотоника
Главная
Микроэлектроника и фотоника
28 часов
ИОНХ РАН

Образовательная организация

Институт общей и неорганической химии имени Н. С. Курнакова РАН — химический институт Российской академии наук. Основан в Москве в 1934 году. Основные научные направления ИОНХ РАН: Химическое строение и реакционная способность координационных соединений Синтез и изучение новых неорганических веществ и материалов

Для кого

Научные работники, специалисты в химическом производстве

Продолжительность
28 академических часов:
  • 23 часа - лекции и практические занятия
  • 5 часов - изучение дополнительных материалов, выполнение заданий, консультации с преподавателями

Стоимость

29 000 р.*

Документ по окончании обучения

Документы о квалификации установленного ИОНХ РАН образца — удостоверение о повышении квалификации

Формат обучения

Размер группы

от 8 до 15 человек
Очный

*при наборе группы более 10 человек, возможна скидка 5% для каждого слушателя

Описание курса
Программа данного курса направлена на подготовку специалистов, способных работать в современных условиях в области разработки и производства наносистем, тестирования функциональных и конструкционных материалов, в том числе полученных методами аддитивных технологий, микроэлектронных устройств и схем, элементов фотонных и сенсорных устройств требующих широких знаний как в области проектирования и технологии производства, так и в методах их сертификации и измерений.

Модули
  1. Основы метода растровой электронной микроскопии, взаимодействие электронов с веществом
  2. Принципы формирования изображений и контраста в просвечивающей электронной микроскопии
  3. Рентгеноспектральный микроанализ
  4. Основные узлы растрового электронного микроскопа
  5. Требования к образцам, анализируемым методом растровой электронной микроскопии
  6. История развития материаловедения. Современные проблемы материаловедения
  7. Строение материалов
  8. Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним
  9. Микроскопический метод исследования металлов и сплавов
Подать заявку на обучение